ESTUDO POR DIFRAÇÃO DE RAIO-X EM FILMES FINOS lnls

ESTUDO POR DIFRAÇÃO DE RAIO-X EM FILMES FINOS lnls

(Parte 6 de 6)

Figura 46 – Esquema da difração na a) condição de Bragg e b) fora da condição de Bragg.

Figura 47 – Esquema da difração para mais de um tubo.

Portanto, é necessário primeiro fazer uma varredura do substrato com o filme para que seja localizada a região onde serão medidos os picos, fixando o ângulo 2θ, e para identificar o pico do substrato que terá quer eliminado posteriormente. Esta medida também é importante para que se possa ver a diferença relativa aos picos do tubo e do filme, que devem estar em posições ligeiramente diferentes, já que por causa da deformação nas camadas planas, os parâmetros de rede serão alterados.

Esta primeira varredura também é feita com o Pilatus, mas com este funcionando como uma fenda, ou seja, integrando somente uma parte delimitada dos pixeis (ROI), como mostra a Figura 48. Assim, ele pode formar a imagem como se esta estivesse sendo medida por um detector unidimensional.

Figura 48 – Região de interesse (ROI) no Pilatus.

Este procedimento foi feito para os microtubos de Pr0,5Ca0,5MnO3 (PCMO) /

SrRmO3 (SRO) em substrato de SrTiO3 (STO) e pode ser visto na Figura 49, onde o difratograma do filme aparece em azul e o somente dos tubos, com a integração dos

100 canais centrais do Pilatus, aparece em vermelho. Na imagem também é possível perceber que os picos do tubo possuem, realmente, um deslocamento em relação ao filme.

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